许多微机ä¿�护的模数å�˜æ�¢å›žè·¯é‡‡ç”¨äº†ç”µåŽ‹é¢‘çŽ‡å�˜æ�¢å™¨ï¼ˆVFC)技术,为了æ��高VFC的抗干扰性能,多数情况下采用在VFC芯片的+15Vã€�-15V电æº�,对地间DGNDå¢žåŠ ä¸€ä¸ªæŠ—å¹²æ‰°ç”µå®¹ï¼Œæ¯�åº¸ç½®ç–‘æ¤æŠ—å¹²æ‰°ç”µå®¹æ»¤é™¤äº†ç”µç£�干扰和电路ä¸çš„高次è°�波干扰,æ��高了VFCè¿�行的稳定性。但是,由于æ¤ç”µå®¹ç›é€‰ä¸�å½“ï¼Œå¾€å¾€é€ æˆ�ä¿�护装置å�‘ç”Ÿæ•…éšœç”šè‡³è¯¯åŠ¨æˆ–æ‹’åŠ¨ï¼Œè€Œæ¤æ•…障的表象往往ä¸�易被人å�‘çŽ°ï¼Œæ•…éšœçŸæ—¶é—´å†…ä¸�能被处ç�†ï¼Œä½¿ä¸€æ¬¡è®¾å¤‡é•¿æ—¶é—´æ— ä¿�护è¿�行,从而严é‡�å½±å“�ç�€ç”µç½‘的安全è¿�è¡Œã€‚æœ¬æ–‡æ ¹æ�®ä¸¤æ¬¡æŠ—干扰电容æ�Ÿå��的处ç�†ç»“果和方法,为ä¿�护人员æ��供了一个处ç�†å�Œç±»æ•…障的快速便æ�·çš„办法。
  1�异常故障
  1.1 异常故障1
  2002å¹´1月,110kVæŸ�å�˜ç”µç«™é¢„告è¦é“ƒå“�,å�Žå�°æœºæŠ¥â€œ110 kV备自投异常â€�,“数æ�®é‡‡é›†å‡ºé”™â€�。ä¿�护盘上CSB-21Aæ•°å—å¼�备自投装置é�¢æ�¿â€œå‘Šè¦ç�¯äº®ï¼Œæ¶²æ™¶å±�显示â€�CPU comm errè¿�行ç�¯é—ªçƒ�。
  1.2 异常故障2
  2004å¹´5月,110 kVæŸ�å�˜ç”µç«™é¢„告è¦é“ƒå“�,å�Žå�°æœºæŠ¥â€œ1#主å�˜ä¿�护电æº�消失â€�,ä¿�护盘上CST-231Aä¿�护装置é�¢æ�¿â€œè¿�行â€�ç�¯ç�,液晶显示å±�æ— ä»»ä½•æ˜¾ç¤ºã€‚
  2�现场调查处�
  2.1 异常故障1处�
ã€€ã€€å› ä»¥å‰�也出现过数æ�®é‡‡é›†é”™è¯¯çš„æƒ…况,掉闸å�Žé‡�新投入å�Žï¼Œå°±æ�¢å¤�æ£å¸¸ï¼Œä½†è¿™æ¬¡æŽ‰é—¸å�ŽæŠ•å…¥æ•…éšœä»�ä¸�æ¶ˆé™¤ã€‚æ ¹æ�®ä¿�æŠ¤è£…ç½®çš„æŠ€æœ¯è¯´æ˜Žä¹¦ä¸Šæ‰€è¯´ï¼Œæ¤æ•…障为CPUæ�¿æˆ–VFCæ�¿æœ‰é—®é¢˜ï¼Œåº”æ›´æ�¢CPUæ�¿æˆ–VFCæ�¿ï¼Œä½†çŽ°åœºæ²¡æœ‰å�Œç§�åž‹å�·çš„VFCæ�¿æˆ–CPUæ�¿ã€‚æ ¹æ�®æŠ€æœ¯è¯´æ˜Žä¹¦ä¸Šå›¾çº¸å’Œä»¥å¾€çš„处ç�†æ•…éšœç»�验:
  对所有�件进行外观检查,未�现有开焊�烧�现象;
  电�检查:�入全部�件,将电��件转�出�进行电压测�
  ⑶故障查找å�Šå¤„ç�†ï¼šä»”细查看模数å�˜æ�¢æ�’件原ç�†å›¾ï¼Œå�³å�¯å�‘现+15Vã€�-15 V对DGND间有一电容,用万用表高阻抗档测é‡�,å�‘现电容两端没有任何充电过程,且阻值为0,说明电容有çŸè·¯æƒ…况,但VFCæ�¿çš„æ¯�一个VFC110芯片10脚与14脚之间都焊有电容1个,那么å�ªæœ‰ç„Š1个,测1个,å�Žå�‘现有两个电容击穿çŸè·¯ã€‚æ›´æ�¢å�Žï¼Œæ�’上VFCæ�¿ï¼Œç”µæº�æ�¢å¤�æ£å¸¸çš„+15 Vï¼Œå¼‚å¸¸å‘Šè¦æ¶ˆé™¤ã€‚装置æ�¢å¤�è¿�行。
  2.2 异常故障2处�
ã€€ã€€å› CST-231Aä¿�护装置故障å�Žï¼Œæ¶²æ™¶å±�æ— æ˜¾ç¤ºï¼Œæ‰€æœ‰æŒ‡ç¤ºç�¯ç�ï¼Œæ ¹æ�®ä»¥å¾€çš„ç»�éªŒï¼Œé¦–å…ˆåˆ¤æ–æ˜¯è£…置电æº�æ�Ÿå��了。
  ⑴将电æº�æ�’件转æ�’出æ�¥å�Žï¼Œæµ‹é‡�输出电压+15 Vã€�-15 Vã€�+5 Vå�‡ä¸º0,输入电压为220 V,是电æº�å��了,还是其它æ�’件内部çŸè·¯ï¼Œå¼•起电æº�ä»¶ä¿�护动作,需查清。
  ⑵拔出所有æ�’件,é€�一进行外观检查,没有å�‘现çŸè·¯çƒ§ç�¼ç—•迹,å�°åˆ·æ�¿æ£å¸¸ã€‚
  ⑶ä¸�急于更æ�¢ç”µæº�æ�’件,防æ¢å†…部有çŸè·¯ï¼Œå†�æ¬¡é€ æˆ�新的电æº�æ�Ÿå��,在拔出所有æ�’件,ä¿�留转æ�’电æº�æ�¿ï¼ŒæŽ¥ç”µï¼Œæµ‹è¯•å�„输出电压+15 Vã€�-15 Vã€�+5 Væ�¢å¤�æ£å¸¸ï¼Œè¯´æ˜Žç”µæº�æ�’件良好未æ�Ÿå��。
  ⑷é€�一推入VFCæ�¿ã€�CPUæ�¿ã€�跳闸æ�¿ã€�ä¿¡å�·æ�¿ï¼Œå¹¶é€�一æ–电接电,监视输出电压的测点,当推入VFCæ�¿ç»™è£…置接电å�Žï¼Œå�„输出电压+15 Vã€�-15 Vã€�+5 Vå�‡ä¸º0,液晶å±�æ— æ˜¾ç¤ºï¼Œå�¯ä»¥æ–定VFCæ�¿å†…部çŸè·¯é€ æˆ�电æº�æ�¿å†…部ä¿�护电路动作,电æº�æ�’ä»¶ä¿�护动作关é—电æº�。
  ⑷故障查找å�Šå¤„ç�†å�Œ2.1ä¸çš„â‘¶ä¸€æ ·ï¼Œæ�Ÿå��电容元件1个,更æ�¢å�Žï¼Œæ�’上VFCæ�¿â€œè¿�行â€�ç�¯æŒ‡ç¤ºæ£å¸¸ï¼Œæ¶²æ™¶å±�显示æ£å¸¸ï¼Œè£…ç½®æ�¢å¤�è¿�行。
  3�故障分�
  模数å�˜æ�¢æ�’件在d-b-z18对d-b-z16间(+15 V),d-b-z14对d-b-z16间(-15 V)并è�”抗干扰电容,对æ��高数æ�®é‡‡é›†çš„æ£ç¡®æ€§å�ŠæŠ—å¹²æ‰°æ€§èµ·åˆ°äº†ä¸�容置疑的作用,但两次装置异常故障å�‡å‡ºçŽ°åœ¨å�Œä¸€å�—æ�¿ä¸Šï¼Œå�Œä¸€ç±»åž‹çš„电容元件上,而å�‘生的现象两次ä¸�å�Œï¼Œä¸€æ¬¡ä¸ºå�¯ä»¥å�‘å‡ºæŠ¥å‘Šï¼Œä¸€æ¬¡ç”µåŽ‹å…¨æ— ï¼Œè¯´æ˜Žç”µå®¹å…ƒä»¶å�‘生çŸè·¯å�Žï¼Œä¸€æ¬¡ç”µæº�æ�’件的内部过æµ�ä¿�护未动作,一次电æº�æ�’件的内部过æµ�ä¿�护动作,但电æº�内部的ä¿�护过æµ�动作定值未å�šè¿‡è¯•验,ä¸�便论述。这里å��æ˜ å‡ºä¸‰ä¸ªé—®é¢˜ï¼š
  抗干扰电容ç›é€‰ä¸�当,è€�压水平较低;
  电æº�æ�’件的过æµ�ä¿�护å˜åœ¨ç�€è¿‡æµ�定值ä¸�一的问题;
  采用电容器作为抗干扰措施简å�•实用,但也å��æ˜ äº†å®ƒçš„å¼±ç‚¹ã€‚
  4�防范措施
ã€€ã€€æ ¹æ�®è¿™ä¸¤æ¬¡çš„æ•…障现象和处ç�†æ–¹æ³•,我们对ä¿�护人员进行了培è®ï¼Œå¹¶å¤‡å¥½è´¨é‡�å�¯é� 的电容元件,以便å�‘生类似的故障时,迅速快æ�·çš„处ç�†ã€‚
  对采用æ¤ç§�抗干扰措施的ä¿�护装置,è�”系生产厂家,咨询电容器元件的质é‡�情况,有必è¦�çš„è¯�,对æ¤VFCæ�’件进行更æ�¢ã€‚
æ�¥æº�:考试大-建ç‘工程类考试
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