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执业�师考试�典附录:薄层色谱法

��:233网校 2007年1月19日

  B. 薄层色谱法

  薄层色谱法,系将适宜的�附剂或载体涂布于玻璃��塑料或�基片上,�一�匀薄层。待点样�展开�,与适宜的对照物按�法在��上所得的色谱图对比,并�用薄层扫�仪进行扫�,用以进行��的鉴别��质检查或��测定的方法。

  1.仪器与�料(1) 玻� 除�有规定外,用10cm×10cm�10cm×15cm�20cm×10cm或20cm×20cm的规格,�求光滑�平整,洗净��附水�,晾干。

  (2) �附剂或载体 常用的有硅胶G�硅胶GF<[254]>�硅胶H�硅胶HF<[254]>,其次有硅藻土�硅藻土G�氧化��氧化�G�微晶纤维素�微晶纤维素F<[254]>等。其颗粒大�一般�求直径为10~40μm.薄层涂布,除�有规定外,一般�分无��剂和���剂两�;�者系将�附剂或载体用水适�调�糊状,�匀涂布于玻璃�上,�者系在�附剂或载体中加入一定�的��剂,一般常用10%~15%煅石�(CaSO4.2H2O在140℃加热4�时),混匀�加水适�使用,或用羧甲基纤维素钠水溶液(0.2%~0.5%)适�调�糊状,�匀涂布于玻璃�上。也有�一定改性剂如�光剂或缓冲液等的薄层。

  (3) 涂布器 应能使�附剂或载体在玻璃�上手工或自动涂�一层符�厚度�求的�匀薄层。

  (4) 点样器 一般采用微�毛细管或与之相应的点样器�。

  (5) 展开室 �用适�薄层�大�的专用玻璃缸,底部平底或有�槽,盖�须密闭。

  2.�作方法(1) 薄层�制备 除�有规定外,将�附剂1份和水3份在研钵中�一方�研磨混�,去除表�的气泡�,倒入涂布器中,在玻�上平稳地移动涂布器进行涂布(厚度为0.25~0.5mm),�下涂好薄层的玻�,于室温下,置水平�上晾干,在�射光��射光下检视,表�应�匀,平整,无麻点�无气泡�无破��污染,于110℃烘30分钟,冷��立�使用或置干燥箱中备用。或用商�预制�。

  (2) 点样 除�有规定外,用点样器点样于薄层�上,一般为圆点,点样基线�底边1.0~1.5cm,样点直径一般�大于2mm,点间�离�视斑点扩散情况以�影�检出为宜。

  点样时必须注�勿�伤薄层表�。

  (3) 展开 将点好样�的薄层�放入展开缸的展开剂中,浸入展开剂的深度为�原点5mm为宜,密�,待展开至规定�离,除�有规定外,一般为8~15cm,�出薄层�,晾干,按正文项下的规定检测。

  展开缸如需预先用展开剂预平衡,�在缸中加入适�的展开剂,必�时并在�上贴二�与缸一样高�宽的滤纸�,一端浸入展开剂中,盖严,使展开缸平衡或按正文规定�作。

  (4) 如需用薄层扫�仪对色谱进行扫�供鉴别�检查或��测定,则�用薄层扫�法。

  3.薄层扫�法系指用一定波长的光照射在薄层�上,对薄层色谱中有�收紫外光或��光的斑点,或�激��能�射出�光的斑点进行扫�,将扫�得到的图谱�积分数�用于��的鉴别��质检查或��测定。

  除�有规定外,薄层扫�方法�根���薄层扫�仪的结构特点�使用说明,结�具体情况,选择�射方�,采用�收法,或�光法,用�波长或�波长扫�。测定方法有内标法�外标法。由于影�薄层扫�结果的因素很多,故薄层扫�定�测定应在��供试�斑点的�在校正曲线的线性范围内的情况下,与对照���点样,展开,扫�,积分和计算。

  用外标法测定时,若对照��数�点在校正曲线上呈一通过原点的直线时,�用一点法校正,如�通过原点通常宜采用二点法校正,必�时用多点法校正。��测定时,供试�溶液和对照�溶液应交�点于�一薄层�上,供试�点样�得少于4个,对照��一浓度�得少于2个,薄层扫�定�用的对照�纯度应符���测定用对照�的�求。

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