2011年执业è�¯å¸ˆè�¯å¦ä¸“ä¸šçŸ¥è¯†äºŒåŸºç¡€ä¹ é¢˜(13)
  6�预测�生一级�应的�物,其�衰期
  A与åˆ�始浓度C0æ— å…³
  B与t时�应物浓度有关
  C与å��应常数kæ— å…³
  D与�始浓度C0有关
  E与�应时间有关
ã€€ã€€æ ‡å‡†ç”æ¡ˆï¼ša
  7�下列哪个方程是�物稳定性预测的主��论��
  A stock’s方程
  B Arrhenius指数定律
  C Noyes方程
  D Noyes-Whitney方程
  E Poiseuile公�
ã€€ã€€æ ‡å‡†ç”æ¡ˆï¼šb
  8ã€�关于影å“�è�¯ç‰©åˆ¶å‰‚ç¨³å®šæ€§çš„å¤„æ–¹å› ç´ ï¼Œä¸‹åˆ—å�™è¿°é”™è¯¯çš„æ˜¯
  A.溶剂介电常数对è�¯ç‰©ç¨³å®šæ€§çš„å½±å“�,适用于离å�与带电è�·è�¯ç‰©ä¹‹é—´çš„å��应
  B.���应,采用介电常数低的溶剂,能够�低�物的水解速度
  C.异��应,采用介电常数低的溶剂,能够�低�物的水解速度
  D.相å�Œç”µè�·ç¦»å�之间的å��åº”ï¼ŒåŠ å…¥ç›�(离å�强度增大),会使é™�è§£å��应速度增大
  E.如果è�¯ç‰©æ˜¯ä¸æ€§çš„,离å�å¼ºåº¦å¢žåŠ å¯¹é™�è§£å��åº”é€Ÿåº¦æ— å½±å“�
ã€€ã€€æ ‡å‡†ç”æ¡ˆï¼šc
  解  æž�:å�Œå�·å��应(进攻离å�与è�¯ç‰©ç¦»å�的电è�·ç¬¦å�·ç›¸å�Œ),采用介电常数低的溶剂,能够é™�低è�¯ç‰©çš„æ°´è§£é€Ÿåº¦
  9�关于�物稳定性�述错误的是
  A通常将�应物消耗一�所需的时间为�衰期
  B大多数�物的�解�应�用零级�一级�应进行处�
  C�物�解�应是一级�应,�物有效期与�应物浓度有关
  D大多数�应温度对�应速率的影�比浓度更为显著
  E温度å�‡é«˜æ—¶ï¼Œç»�大多数化å¦å��应速率增大
ã€€ã€€æ ‡å‡†ç”æ¡ˆï¼šc
  10�影�易于水解�物的稳定性,与�物氧化�应也有密切关系的是
  A�pH
  B�广义的酸碱催化
  C�溶剂
  Dã€�离å�强度
  E�表�活性剂
ã€€ã€€æ ‡å‡†ç”æ¡ˆï¼ša
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