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�物分�之西�分�——红外分光光度法

      1.仪器的校正和检定。绘制è�šè‹¯ä¹™çƒ¯è–„膜(厚度约为0.05mm)的光谱,用2851cm<-1>ã€�1601cm<-1>ã€� 1028cm<-1>ã€�907cm<-1>处的å�¸æ”¶å³°å¯¹ä»ªå™¨çš„æ³¢æ•°è¿›è¡Œæ ¡æ­£ã€‚在2000~400cm<-1>区间å…�许相差±4cm<-1>以内,在4000~2000cm<-1>区间å…�许相差±8cm<-1>以内.
  上述光谱中,仪器的分辨率�求在3110~2850cm<-1>范围内应能清晰地分辨出7个峰,2924cm<-1>与 2851cm<-1>�收带的分辨深度��于18%�光率,1601cm<-1>与1583cm<-1>�收带的分辨深度��于8%�光率。
  2.试样的制备方法除�有规定外,用作鉴别时应按照�生部�典委员会编订的《��红外光谱集》(1995年版)�光谱所规定的制备方法制备。具体�作技术���《��红外光谱集》说明。
  3.正文中å�„å“�ç§�项下规定“应与对照的图谱(光谱集××图)一致â€�,系指《è�¯å“�红外光谱集》(1995年版)的图谱。
  4.具有多晶现象的固体��由于测定时晶型�能��,致使绘制的光谱图与《��红外光谱集》所收载的光谱图�一致,�此情况时,应按该��光谱图中备注的方法进行预处���绘制比较。
  由于��型�的仪器性能��,试样制备时研磨程度的差异或�水程度��等原因,�会影�光谱的形状。因此,进行光谱对比时,应考虑��因素�能造�的影�。
  5.用作晶型�异构体�度检查或��测定时,试样制备和具体测定方法�按���项下有关规定�作。
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